În dotarea laboratorului exista 2 difractometre şi anume:
Difractometru de Raze X SCHIMADZU XRD 6000
Caracteristici: Analize calitative, de identificare a fazelor cristaline în probe solide, la temperaturi cuprinse în intervalul 20 – 1500°C, precum şi analize cantitative pe amestecuri pulverulente şi determinarea gradului de cristalinitate (pe baza ecuaţiei Lorentz); domeniul de difracţie variază între 2θ = 3 – 100°; viteza minimă de scanare 0,005o/mi.
Difractometru de Raze X Panalytical Empyrean
Caracteristici: Analize calitative si calitative de identificare a fazelor cristaline În probe solide cu următoarele caracteristici si opţiuni; anod de tipul „fine focus”; goniometrul de înaltă rezoluţie; Domeniul angular cuprins în intervalul -111 ÷ 168 grade; liniaritatea goniometrului de ± 0,01o (2Theta); detector de tip 2D de 256×256 pixeli; Modul pentru analize de tipul SAXS; platformă în 5 axe pentru analiza filmelor subţiri. Se pot face analize de tipul: analiza cantitativă şi calitativă Rietveld şi de tip cluster, manipulare rezultate pe grafic, căutare picuri, import/export date, fitare-netezire a spectrelor de difracţie; Fitare de profil; Analiza 2D a cercurilor Debye; Căutare, identificare faze, analiză semicantitativă; Rafinare şi căutare celulă unitate şi rafinarea întregului profil; Analiză Rietveld; Analize de textură; Calculul funcţiei de distribuţie a orientărilor, figuri de poli, figuri de poli inverşi; calcularea automată a dimensiunii particulelor, distribuţia şi suprafaţa specifică; Analiza distribuţiei dimensiunii multimodale; Posibilitatea de creare de şabloane analitice cu control total al paşilor şi al parametrilor; Determinarea grosimii straturilor subţiri, densităţii, parametrilor de interfaţă dintre straturi, simulare, fitare; Vizualizarea şi analiza scanărilor pe una sau 2 axe: rocking curve, reciprocal space mapping, reflectivity, pole figures, inverse pole figures.
Rezultate obținute
